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    SAPS兆声波清洗设备

    应用于集成电路先进技术节点的平面和图形晶圆

    j9游会真人游戏第一品牌特有专利技术(中国发明专利;专利号:ZL 2009 1 0050834.2)——半导体衬底的清洗方法和装置(SAPS),通过控制兆声波清洗装置与晶圆的间距随兆声波相位的变化,来实现兆声波在晶圆表面的均匀分布,以达到最优化的清洗效果。

    SAPS兆声波清洗设备



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      空间交变相位移晶圆清洗应用领域

      • 深沟道清洗

      • CMP 后清洗

      • Hard Mask 沉积后清洗

      • Contact/Via 刻蚀后清洗

      • Barrier Metal沉积前清洗

      • 晶圆回收清洗

      • EPI沉积前清洗

      • ALD沉积前清洗



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        特性和规格(Ultra C SAPS II)

        最多可配至8个腔体,产能225WPH

        双面清洗,最多可配5种清洗药液, 如. DHF SC1, SC2, DIO3, BOE, Solvent, HF/HNO3…

        最多可回收两种药液

        集成式药液供给模块

        设备体积小:2.35m x 5.53m x 2.85m (宽x长x高)

        特性和规格(Ultra C SAPS V)

        具有所有Ultra C SAPS II设备的功能

        最多可配至12个腔体, 产能375 WPH

        集成式化学药液供给模块

        可配高温IPA干燥的技术

        设备体积小:2.35m x 6.7m x 2.85m (宽x长x高)